How to GaN Webinar Series

产品可靠性线上研讨会

了解氮化镓器件为什么比硅功率MOSFET元件更稳固

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我们诚意邀请您参加EPC公司的线上研讨会,与您一起探讨氮化镓功率器件的可靠性和如何反复测试器件,从而了解氮化镓器件的稳固性是硅功率MOSFET器件所无法比拟的。

参加线上研讨会,学习更多关于:

  • 如何确定影响动态RDS(on)的关键机理和构建更可靠的设计。
  • 如何在数据手册所载的安全工作区域(SOA),对几种eGaN®产品进行反复测试,当器件发生故障后,找出器件的安全工作裕度。
  • 如何在短路条件下对eGaN器件进行反复测试,以确定在灾难性故障发生之前,eGaN器件能够承受多长时间的应力和多高能量密度。
  • EPC如何设定一个定制系统以评估在长期激光雷达脉冲应力下工作的eGaN器件的可靠性。

线上研讨会时间表 - 请点击这里

Alex Lidow

Alex Lidow现为宜普电源转换公司(EPC)的首席执行官及共同创办人。在创办宜普电源转换公司之前,Lidow博士是国际整流器公司(NYSE:IRF)的首席执行官。他是HEXFET®功率MOSFET的共同发明者,除了拥有多项与功率半导体技术相关的专利权外,Lidow博士发表了许多与这些技术相关的著作,并且与另外三位作者共同著作《氮化镓晶体管—高效功率转换器件》教科书。该教科书出版了第三版,由John Wiley & Sons出版。Lidow博士获得美国加利福尼亚理工学院应用物理理学学士学位及斯坦福大学应用物理博士学位。

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