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寬能隙功率元件的特性量測

by Fei Wang、Zheyu Zhang和Edward A. Jones

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本書的作者全部擁有多年的相關經驗,對寬能隙功率元件特性量測的分析,具有相當的深度及專業性。 本書為研究人員、就讀深造課程的學生及在職工程師提供實用的工具,對寬能隙功率元件的靜態及動態性能進行檢測,尤其是針對碳化矽(SiC)及氮化鎵(GaN)功率半導體。本書分享實際應用及採用不同性能檢測方法的範例。