在前十份报告 [1-10]中发布的、不断增长的知识基础上，第十一阶段产品可靠性测试报告进一步描述几个关键的全新题目。从2010年3月[11]量产以来，氮化镓（GaN）功率器件建立及累积了卓越的现场可靠性测试记录。本文讨论如何实现这个良好记录的策略，是在各种测试条件下，采用失效性测试器件（test-to-fail）的方法，反复对器件进行应力测试，从而找出器件的失效原因，并且为业界构建更坚固的产品。
宜普电源转换公司 的Alejandro Pozo博士、Shengke Zhang博士、Ricardo Garcia、John Glaser博士及Robert Strittmatter博士
第十一阶段产品可靠性测试报告