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ポッドキャスト:スクリーンの裏側の精神:EPCのAlex LidowとGaNの信頼性

ポッドキャスト:スクリーンの裏側の精神:EPCのAlex LidowとGaNの信頼性

このポッドキャストでは、Alex LidowとMarti McCurdy氏が、窒化ガリウム(GaN)・デバイスの改善におけるEPCの故障までテストする方法について議論します。Alexによると、故障するまでテストすることによって、EPCは、故障の原因となるストレス源を正確に取り除き、GaNデバイスの信頼性を商用デバイスの10〜100倍、さらには宇宙用途の100倍にまで向上させることができました。

AlexとMartiは以下について話しました:

(1:30)なぜ故障するまでテストするのか
(4:14)故障データとストレス源から学ぶ
(11:38)安全動作領域
(14:30)機械的ストレス源
(17:45)EPC Space

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