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eGaN技術の信頼性と故障の物理学

分類: 記事
eGaN技術の信頼性と故障の物理学

このシリーズは、eGaN®技術の信頼性が確認されたさまざまな方法や、故障の物理学の理解からモデルを開発する方法を調べて、ほぼすべての動作条件の下で故障率を予測する助けにすることです。この最初のパートと次のパートで、自動車のヘッドライトから、医療システムや4G/ LTEの通信システムまで、さまざまな用途で使うGaNトランジスタの過去6年間の現場経験を見ていきます。各パートの失敗談は、学習した貴重な教訓を導き出します。

米Planet Analog誌
Chris Jakubiec、Robert Strittmatter博士、Alex Lidow博士
2016年3月1日
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