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何100万デバイス時間もの厳格なストレス・テスト後のGaN技術の信頼性を文書化

分類: 記事
何100万デバイス時間もの厳格なストレス・テスト後のGaN技術の信頼性を文書化

EPCの信頼性レポートのフェーズ8は、合計800万GaNデバイス-時間を超えて不具合ゼロだったことをまとめたものです。このレポートは、EPCのデバイスが品質認定された製品として発表される前に実施されるストレス・テストを詳細に調べたもので、故障の物理を分析しています。

Bodo’s Power Systems誌
2016年9月1日
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タグ: 信頼性