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Efficient Power Conversion(EPC)、GaNの信頼性と、eGaNデバイスの寿命予測のための物理ベースのモデルの利用に関する信頼性レポートのフェーズ14を公開へ

Efficient Power Conversion(EPC)、GaNの信頼性と、eGaNデバイスの寿命予測のための物理ベースのモデルの利用に関する信頼性レポートのフェーズ14を公開へ

Efficient Power Conversion(EPC)は、フェーズ14の信頼性レポートを公開します。このレポートは、広範な知識を追加し、シリコン・パワー・デバイスでは比類のない丈夫さを実証します。

EPC(Efficient Power Conversion Corporation、本社:カリフォルニア州エルセグンド)は2月1日、フェーズ14の信頼性レポートを公開し、驚くべきフィールド信頼性記録を達成するために使われた戦略を文書化したと発表しました。さまざまな用途でGaNデバイスを迅速に採用するには、信頼性統計の継続的な蓄積と、GaNデバイスの故障の基本的な物理の研究が必要です。フェーズ14の信頼性レポートでは、さまざまな条件下で、デバイスを強制的に故障させるテストに基づいて寿命を測定し、予測するために使われる戦略を示します。この情報を使えば、自動運転車、ロボット、セキュリティ、ドローン向けのLidar(光による検出と距離の測定)高電力密度コンピューティング衛星などの用途向けに、より丈夫で高性能な製品を開発できます。

このレポートは、eGaNデバイスを故障する所までテストした結果を示し、デバイス固有の故障メカニズムを特定するための情報を提供します。これらの固有の故障メカニズムを特定することによって、時間、温度、電気的または機械的なストレスに対するデバイスの動作に関する深い知識を構築して使用し、より広範な組み合わせの動作条件で、製品の安全な動作寿命を正確に予測する物理ベースのモデルを作成できます。

このレポートは8つのセクションに分かれており、それぞれが異なる故障メカニズムを扱っています。

セクション1:eGaNデバイスのゲート電極に影響を与える固有の故障メカニズム

セクション2:動的オン抵抗RDS(on)の基礎となる固有のメカニズム

セクション3:物理ベースのモデルの一般的な実際のユース・ケースへの適用

セクション4:安全動作領域(SOA:Safe operating area)

セクション5:短絡状態でのデバイスの破壊テスト

セクション6:長期間のLidarパルスのストレス条件における信頼性評価のための専用テスト

セクション7:機械力ストレス・テスト

セクション8:熱機械的ストレス

CEO(最高経営責任者)で共同創立者のAlex Lidow(アレックス・リドウ)博士は、「当社のフェーズ14の信頼性レポートの公開は、数100万個のデバイスと第5世代の技術の累積された経験をまとめており、さまざまなストレス条件でのGaNデバイスの動作をより深く理解することにつながります」と述べています。

EPCについて

EPCは、エンハンスメント・モード窒化ガリウム(eGaN®)に基づいたパワー・マネージメント(電源管理)・デバイスのリーダーです。eGaN FETと集積回路は、DC-DCコンバータリモート・センシング技術(Lidar)、イーモビリティ向けモーター駆動モーター駆動 、ロボット、ドローン、低価格衛星などの用途で、最高のパワーMOSFETよりも何倍も高性能です。

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報道関係の問い合わせ先

Renee Yawger 電話:1.908.475.5702、電子メール:[email protected]

eGaNは、Efficient Power Conversion Corporation, Inc.の登録商標です。