GaNデバイスのテスト情報

EPCは米Spirit Electronicsと共同で、製造ロット固有のデータ・サービスの範囲を拡大しています。以下の表に、利用可能なサービスの詳細を示します。以下の表に記載されていない特定の要求がある場合は、[email protected]までご連絡ください。

EPCの商用デバイス向けに提供しているデータ・パック

データ・パック
概要
テスト・パラメータ
データ形式
温度
ロットのデータ・パック テープ・アンド・リールのロット。ロットの電気的分布のデータ・パック。(平均、標準偏差、最小、最大) IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) (ドレイン-ソース間の漏れ) 25°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
シリアル化したロットのデータ・パック テープ・アンド・リールのチップは、個々に識別。各チップの電気テスト・データのシリアル化したデータ・パックで、25℃のデータ。 IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) シリアル化した読み取りと記録 25°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
シリアル化したロットのデータ・パック:高温 テープ・アンド・リールのチップは、個々に識別。各チップの電気テスト・データのシリアル化したデータ・パックで、150℃のデータ。 IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) シリアル化した読み取りと記録 150°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
シリアル化したロットのデータ・パック:低温 テープ・アンド・リールのチップは、個々に識別。各チップの電気テスト・データのシリアル化したデータ・パックで、-55℃のデータ。 IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) シリアル化した読み取りと記録 -55°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
目視検査したシリアル化したロットのデータ・パック テープ・アンド・リールのチップは、個々に識別。各チップの電気テスト・データのシリアル化したデータ・パックで、25℃のデータ。チップ目視検査のサンプル・データ。 IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) シリアル化した読み取りと記録 25°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
目視検査のサンプル・データ シリアル化した写真データ N/A
目視検査したシリアル化したロットのデータ・パック:高温 テープ・アンド・リールのチップは、個々に識別。各チップの電気テスト・データのシリアル化したデータ・パックで、150℃のデータ。チップ目視検査のサンプル・データ。 IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) シリアル化した読み取りと記録 150°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
目視検査のサンプル・データ シリアル化した写真データ N/A
目視検査したシリアル化したロットのデータ・パック:低温 テープ・アンド・リールのチップは、個々に識別。各チップの電気テスト・データのシリアル化したデータ・パックで、-55℃のデータ。チップ目視検査のサンプル・データ。 IDSS (ドレイン-ソース間の漏れ) シリアル化した読み取りと記録 -55°C
IGSS5V (ゲート-ソース間の順方向の漏れ)
IGSSmV (ゲート-ソース間の逆方向の漏れ):適用可能な場合
VGS(TH) (ゲートのしきい電圧)
RDS(ON) (ドレイン-ソース間のオン抵抗)
目視検査のサンプル・データ シリアル化した写真データ N/A

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