GaNの話シリコンを粉砕するために捧げたブログ
Term: オープンコンピュートプロジェクト
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11 29, 2018

エネルギー需要とコストが増大するにつれてパワー・チェーンの選択肢として浮上するGaN

Rick Pierson, Senior Manager, Digital Marketing

このブログは、もともとData Center Frontier のウエブサイトに2018年11月5日にBill Kleyman氏によって公開されましたデータセンター向けのeGaN技術とEPCのGaNソリューションの詳細をご覧ください。

10 24, 2018

eGaN FETベースのパワー段を最適なレイアウトで設計する方法

Rick Pierson, Senior Manager, Digital Marketing

動機

eGaN® FETは、Si MOSFETよりもはるかに高速にスイッチングできるので、寄生インダクタンスを最小限に抑えるために、プリント回路基板のレイアウト設計に細心の注意を払わなければなりません。寄生インダクタンスによって、オーバーシュート電圧が大きくなり、スイッチングの遷移が遅くなります。このアプリケーション・ノートでは、これらの不要な影響を避け、コンバータの特性を最大限に引き出すために、eGaN FETを使って最適なパワー段のレイアウトを設計するための鍵となるステップについて検討します。

スイッチング動作への寄生インダクタンスの影響

図1に示すように、3つの寄生インダクタンス、すなわち、1)パワー・ループのインダクタンス(Lloop)、2)ゲート・ループのインダクタンス(Lg)、3)共通ソースのインダクタンス(Ls)によって、スイッチング特性が制限されます。eGaN FETのチップスケール・パッケージは、トランジスタ内部のインダクタンスをかなり排除しているので、主な制限要因としてプリント回路基板が残ります。各寄生インダクタンスは、動的電流経路とその戻りループによって囲まれる領域全体にあります(WP009:特性への寄生容量の影響を参照)。