GaNの話シリコンを粉砕するために捧げたブログ
Term: 性能
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2 22, 2024

Why you shouldn’t use Rds(on) to select and compare devices in switching power converters

Andrea Gorgerino, Director of Global Field Application Engineering

Learn why RDS(ON) shouldn't be your main criteria for selecting switching devices. EPC's insights reveal a more effective approach for evaluating GaN FETs.

8 21, 2020

新しい耐圧200 VのeGaNデバイスは、成熟したシリコン・パワーMOSFETに比べて性能が2倍です

Alex Lidow, Ph.D., CEO and Co-founder

Efficient Power Conversion(EPC)は、定格200 Vの成熟したシリコン・パワーMOSFETとeGaN®トランジスタの間の性能の差を2倍にしています。新しい第5世代デバイスのサイズは、前世代の約半分です。この性能向上は、図1に示すように、2つの主な設計上の違いによります。左側は、第4世代の200 Vのエンハンスメント・モードGaNオン・シリコンの構造の断面図です。右側の断面図は、第5世代の構造で、ゲート電極とソース電極との間の距離を短くし、厚い金属層が追加されています。これらの改善に加えて、示されていない他の多くの改善によって、新世代FETの性能は2倍になりました。