How to GaN Webinar Series

ライブ・ウエビナ:デッドタイム、QRR、COSSの影響を理解する

デッドタイム、逆回復電荷QRR、出力容量COSSの影響を理解する

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講演内容:

  • スイッチング損失におけるデッドタイム損失の役割
  • ボディ・ダイオードの電圧降下と逆回復
  • COSSの役割
  • これらの損失要素を説明するための設計手法

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Hisashi Tahara

講演者:Hisashi Tahara 1985年にTexas Instruments JapanでアナログICデザインエンジニアとしてキャリアをスタートさせました。20年のアナログ&ミックスドシグナルICデザインエンジニアを経験したのちに、MPS、Intelなどで技術的な顧客サポートをしております。EPC社には2021年8月に入社し、GaNの大きな可能性を感じつつ日本でのGaN普及に努めています。

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