EPCのフェーズ10信頼性レポートは、これまで9本のレポートで公開された拡大する知識ベースに追加されます。このレポートで、EPCは、3万個以上の部品で合計1800万時間以上のストレス試験を実施し、不具合がないことを示しました。何100万個もの部品を出荷しているにもかかわらず、2年以上にわたって現場での不具合はありませんでした。
エフィシエント・パワー・コンバージョン社（EPC：Efficient Power Conversion Corporation、本社：カリフォルニア州エルセグンド）は2019年2月26日、自動車品質のAEC-Q101認定の取得に成功した試験結果を文書化したフェーズ10信頼性レポートを発表しました。AEC-Q101では、パワーFETに対して最高レベルの信頼性規格を要求し、データシートにおいて不具合がないだけでなく、ストレス試験中のパラメータのドリフトが小さいことも要求します。注目すべきは、EPCのWLCSパッケージ（ウエハー・レベルのチップスケール・パッケージ）が従来のパッケージ部品用に作成されたすべての同じ試験規格に合格していることです。これは、チップスケール・パッケージの優れた性能が耐久性や信頼性を損なわないことを実証しています。
デバイスの不具合につながる可能性のある独自のメカニズムについての理解を深めるため、AEC-Q101の要件を超えた信頼性試験もこのレポートに含まれます。ハードスイッチング条件の中での極端な動的オン抵抗RDS(on) 試験の調査に関するセクションもあります。この試験によって、eGaNデバイスが長期間の連続スイッチング動作にわたって安定していることが分かります。
3番目のセクションでは、以前のEPCのフェーズ6レポートで調べた加速ストレス試験について詳しく説明します。継続的にモニターしたゲートの漏れだけでなく、他のデバイス・パラメータ（しきい電圧VTHとドレイン飽和電流IDSS）が定期的に記録されます。この種のデータは、高いゲート・ストレス条件下でのデバイスの劣化をより完全に把握し、複数の独立した故障の物理的メカニズムに対する可視可を提供します。この試験によって、eGaN FETのゲートは、耐久性と信頼性が非常に高いことが実証されます。
EPCの共同創立者でCEO（最高経営責任者）のAlex Lidow博士は、「eGaNデバイスは、9年以上にわたって量産されており、ほんの数例を挙げると、自動運転車用Lidar（光による検出と距離の測定）、4G基地局、衛星などの実験室での試験やユーザーのアプリケーションの両方で非常に高い信頼性が実証されています。実際、ここでは、何100万個もの部品を出荷しているにもかかわらず、2年以上、現場での不具合はありませんでした」と述べています。
さらに、「この信頼性レポートの公表は、GaNデバイスを厳格な業界規格に準拠させ、3万個以上の当社の部品が1800万時間以上のストレス試験で不具合がないことを確認したという結果を電力変換業界と共有するという当社のコミットメントの一環です」とも語りました。
このフェーズ10信頼性レポートは、EPCのこれまでの9本のレポートで公表されていた拡大し続ける知識ベースの追加であり、GaN技術の信頼性に関する情報を研究し、学び、そして共有することへの継続的なコミットメントの表明です。
EPCについて
EPCは、エンハンスメント・モード窒化ガリウムに基づいたパワー・マネージメント（電源管理）・デバイスのリーダーです。EPCは、最高のシリコン・パワーMOSFETよりも何倍も優れたデバイス特性を備えたエンハンスメント・モード窒化ガリウム・オン・シリコン（eGaN）FETを初めて製品化しました。DC-DCコンバータ、 ワイヤレス・パワー伝送、 包絡線追跡、自動車、パワー・インバータ、リモート・センシング技術（Lidar）、 D級オーディオ・アンプ などの用途で、パワーMOSFETを置き換えられます。
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Renee Yawger ([email protected])
eGaNは、Efficient Power Conversion Corporation, Inc.の登録商標です。