このポッドキャストでは、Alex LidowとMarti McCurdy氏が、窒化ガリウム（GaN）・デバイスの改善におけるEPCの故障までテストする方法について議論します。Alexによると、故障するまでテストすることによって、EPCは、故障の原因となるストレス源を正確に取り除き、GaNデバイスの信頼性を商用デバイスの10〜100倍、さらには宇宙用途の100倍にまで向上させることができました。

AlexとMartiは以下について話しました：

（1:30）なぜ故障するまでテストするのか
（4:14）故障データとストレス源から学ぶ
（11:38）安全動作領域
（14:30）機械的ストレス源
（17:45）EPC Space

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