このポッドキャストでは、Alex LidowとMarti McCurdy氏が、窒化ガリウム（GaN）・デバイスの改善におけるEPCの故障までテストする方法について議論します。Alexによると、故障するまでテストすることによって、EPCは、故障の原因となるストレス源を正確に取り除き、GaNデバイスの信頼性を商用デバイスの10〜100倍、さらには宇宙用途の100倍にまで向上させることができました。

AlexとMartiは以下について話しました：

（1:30）なぜ故障するまでテストするのか
（4:14）故障データとストレス源から学ぶ
（11:38）安全動作領域
（14:30）機械的ストレス源
（17:45）EPC Space

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半導体の標準的な認証試験では通常、デバイスのデータシートで指定された制限値またはその近くで、長期間、または特定のサイクル数のストレスをデバイスに加え、故障ゼロを実証します。故障する所まで部品を試験することによって、データシートの制限を超えるマージン量を理解することができますが、さらに重要なのは、半導体の本質的な故障メカニズムを理解することができるということです。

独Bodo’s Power Systems
2020年9月
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EPCの信頼性レポートのフェーズ11が、これまでの10件のレポートで公開された知識ベースに追加されます。このレポートによって、EPCは、1230億デバイス時間の実地経験と、シリコンのパワー・デバイスに匹敵する耐久性を実証しています。

エフィシエント・パワー・コンバージョン社（EPC：Efficient Power Conversion Corporation、本社：カリフォルニア州エルセグンド）は4月2日、信頼性レポートのフェーズ11を発表しました。このレポートで、驚くべきフィールド信頼性記録を実現するために採用した戦略を文書化しています。この戦略は、自動運転車用Lidar（光による検出と距離の測定）、LTE基地局、車両のヘッドランプ、衛星など、要求の厳しいアプリケーションに対応するより丈夫な製品を製作するために、さまざまな条件下で、デバイスを故障するまで強制的にテストすることに基づいています。

窒化ガリウム（GaN）のパワー・デバイスは、2010年3月から量産され、フィールドでの信頼性が優れています。この記事では、部品を故障点までテストすることによって、データシートの制限間のマージン量を理解する方法を詳しく説明しますが、さらに重要なことは、固有の故障メカニズムを理解できることです。本質的な故障メカニズム、故障の根本原因、さまざまな時間、温度、電気的または機械的なストレスにわたるデバイスの動作、および製品の安全な動作寿命を知ることによって、動作条件のより一般的な組み合わせを決定できます。

米Power Systems Design
2020年3月3日
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