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Efficient Power Conversion(EPC)、GaNの信頼性と、eGaNデバイスの寿命予測のための物理ベースのモデルの利用に関する信頼性レポートのフェーズ14を公開へ

Efficient Power Conversion(EPC)、GaNの信頼性と、eGaNデバイスの寿命予測のための物理ベースのモデルの利用に関する信頼性レポートのフェーズ14を公開へ

Efficient Power Conversion(EPC)は、フェーズ14の信頼性レポートを公開します。このレポートは、広範な知識を追加し、シリコン・パワー・デバイスでは比類のない丈夫さを実証します。

EPC(Efficient Power Conversion Corporation、本社:カリフォルニア州エルセグンド)は2月1日、フェーズ14の信頼性レポートを公開し、驚くべきフィールド信頼性記録を達成するために使われた戦略を文書化したと発表しました。さまざまな用途でGaNデバイスを迅速に採用するには、信頼性統計の継続的な蓄積と、GaNデバイスの故障の基本的な物理の研究が必要です。フェーズ14の信頼性レポートでは、さまざまな条件下で、デバイスを強制的に故障させるテストに基づいて寿命を測定し、予測するために使われる戦略を示します。この情報を使えば、自動運転車、ロボット、セキュリティ、ドローン向けのLidar(光による検出と距離の測定)高電力密度コンピューティング衛星などの用途向けに、より丈夫で高性能な製品を開発できます。

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