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宜普電源轉換公司(EPC)發佈第十一階段可靠性測試報告 - 從失效性測試看到氮化鎵器件的穩定性比矽功率MOSFET器件更具優勢

分類: 新聞稿
宜普電源轉換公司(EPC)發佈第十一階段可靠性測試報告 -  從失效性測試看到氮化鎵器件的穩定性比矽功率MOSFET器件更具優勢

第一至第十階段可靠性測試報告後,EPC公司的第十一階段可靠性測試報告進一步豐富知識庫。此報告對受測元件進行超過1230億元件-小時應力測試,並且展示氮化鎵元件的穩定性是矽功率元件所不能實現的。

EPC公司發佈第十一階段可靠性測試報告,與工程師分享受測元件如何實現優越的現場可靠性的策略 - 在廣闊測試條件下,採用失效性測試元件(test-to-fail)的反覆測試方法,從而知道如何構建更穩固的產品以達到應用所需,例如面向全自動駕駛車輛的雷射雷達LTE通信基站、汽車的車頭燈及衛星等應用。

失效性測試元件方法是比較數據表上所列出的元件限制值和應用中產品的性能,從而知道元件的工作極限。最重要的是,可以知道元件的固有失效機理,從而找出失效的根本原因。如果知道元件在工作一段時間後的性能、溫度、電氣或機械應力情況,工程師就可以知道該產品在一般工作條件下的實際安全工作壽命。

這個報告包含七個部份,每個部份描述各種不同的失效機理。

第一部份:影響eGaN® 元件的閘極的固有失效機理

第二部份:動態導通電阻的固有機理

第三部份:安全工作區域(SOA)

第四部份:在短路情況下測試元件至失效

第五部份:採用專有的測試方法,長期置元件於雷射雷達脈衝應力條件下,測 試及分析元件的可靠性

第六部份:機械力的應力測試

第七部份:元件的現場可靠性

宜普電源轉換公司的首席執行長兼共同創辦人Alex Lidow博士說:「氮化鎵(eGaN)元件實現量產已經超過十年。這些器件在實驗室測試及在客戶的量產產品和應用中,都展示出非常高的可靠性。我們的第十一階段可靠性測試報告旨在繼續實踐我們的承諾 -- 與工程師分享我們在這十年間所累積的數百萬個元件-小時的測試經驗及五代技術的知識。這些可靠性測試讓我們進一步瞭解氮化鎵元件在廣闊的應力測試條件下的性能。」

Lidow博士繼續說:「可靠性測試的結果表明,氮化鎵元件是非常穩定及可靠的,其技術改進的步伐,會進一步加快。EPC公司致力於開發符合非常嚴謹可靠性標準的氮化鎵元件並與功率轉換業界分享研究所得的結果。」

宜普電源轉換公司簡介

宜普电源转换公司是基于增强型氮化镓的功率管理器件的领先供应商,为首家公司推出替代功率MOSFET器件的硅基增强型氮化镓(eGaN)场效应晶体管及集成电路,其目标应用包括直流-直流轉換器無線電源傳送波峰追蹤汽車應用領域功率逆變器三維成像與雷射雷達(Lidar)D類音訊放大器等應用,元件性能比最好的矽功率MOSFET元件高出很多倍。此外,宜普公司正在擴大基於eGaN IC的產品系列,爲客戶提供進一步節省佔板面積、節能及節省成本的解決方案。詳情請訪問我們的網站,網址爲www.epc-co.com.tw

商標

eGaN® 是Efficient Power Conversion Corporation宜普電源轉換公司的註冊商標。

傳媒聯絡

Winnie Wong ([email protected])