由于氮化镓器件在许多不同应用中普及，因此业界继续积累氮化镓器件可靠性的测试统计数据，以及研究氮化镓器件（包括集成电路（IC））发生故障的基础物理学。此外，还需要从真实世界的经验中寻找相关的信息，这些信息要么证实了实验室得出的数据，要么引发了关于器件实现任务稳健性的新问题。本第15阶段产品可靠性测试报告记录了使用测试产品至失效的测试方法的持续工作，并增加了氮化镓器件在太阳能优化器、激光雷达传感器和DC/DC转换器的具体可靠性指标和预测。
Ricardo Garcia、Siddhesh Gajare博士、Angel Espinoza、Max Zafrani、Alejandro Pozo博士和Shengke Zhang博士
本报告涵盖的内容：
- 第1节：栅极上的电压/温度应力
- 第2节：漏极上的电压/温度应力
- 2.1基于物理的动态RDS(on) 和寿命模型
- 2.2开关频率和开关电流的影响
- 2.3较高应力电压的影响
- 2.4基于物理的动态RDS(on) 模型的结论
- 第3节：安全工作区
- 第4节：短路稳健性测试
- 第5节：机械应力
- 5.1芯片剪切试验
- 5.2背面压力试验
- 5.3弯曲力试验
- 第6节：热机械应力
- 6.1选择合适底部填充物料的标准
- 6.2温度循环下的底部填充物料研究
- 6.3器件间歇工作的寿命研究
- 6.4选择底填料指南
- 第7节：基于硅基氮化镓器件的激光驱动器的可靠性测试结果
- 7.1大电流脉冲下的器件长期稳定性
- 7.2使用单片硅基氮化镓器件的激光驱动器IC
- 7.2.1鉴定产品测试概述
- 7.2.2测试产品至失效的各种方法
- 7.2.3用于激光雷达应用的eToF激光驱动器IC的关键应力
- 7.2.4 VDD 、逻辑电源电压
- 7.2.5 VD、激光驱动电压
- 7.2.6工作频率
- 第8节：使用测试器件至失效方法、对器件性能的准确预测
eGaN器件如何在太阳能应用中持续工作25年以上
- 8.1栅极应力
- 8.2漏极应力
- 8.3热机械应力
- 8.4宇宙射线
- 第9节：DC/DC转换器
- 9.1电流相关热电子俘获模型
- 9.2 48 V/12 V LLC同步整流器
- 9.2.1 40 V 氮化镓晶体管——情况1和2
- 9.2.2 30 V 氮化镓晶体管——情况3和4
- 9.3 48 V/12 V降压转换器
- 9.3.1低侧氮化镓晶体管
- 9.3.2高侧氮化镓晶体管
- 9.4将模型应用于重要的现实世界的范例总结
- 第10节：总結
- 参考文献