对于动态测量，氮化镓晶体管开关快，需要良好的测量技术，以及可以捕获高速波形重要细节的良好技术。《AN023准确测量高速氮化镓晶体管》应用笔记重点介绍了如何采用客户要求的测量设备和测量技术来准确评估高性能氮化镓晶体管，尤其是建议使用专门用于此类测量的差分探头，例如Tektronix IsoVu、LeCroy DL-ISO和PMK Firefly探头。
EPC9080的测量点
开关损耗测量很常见。 然而，氮化镓器件体积小且开关快，因此添加探针会显着影响测量。 为了捕获可靠和高保真度的波形，重要的是使用适当的探测技术以及具有低输入电容和短接地环路连接功能的探头。
测量技术的影响和测量点的选择
有关低压GaN FET可重复、可靠的动态表征的更多信息，请参阅《低压、小尺寸的GaN FET 的准确表征》文章。