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GaN FET和IC在航太应用中得以普及的原因是由于它具备卓越的性能,包括高效率、高功率密度、开关快和耐辐射。这些优势有助于提高系统可靠性、减轻重量和缩小尺寸,以及增强器件在充满挑战和严苛的太空环境中完成任务的能力。
在本次线上研讨会上,我们将深入探讨“测试器件至失效”的方法如何可以准确预测到在航太应用中工作的GaN FET和IC的产品寿命,包括DC/DC转换、电机驱动、激光雷达和电力推进器。
是次线上研讨会的内容包括:
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演讲者简介:张声科博士现任EPC公司的产品可靠性副总裁,负责领导团队对氮化镓晶体管和集成电路进行故障分析。在加入 EPC 之前,他曾担任移动电话行业 RF-MEMS 器件的高级故障分析工程师。2016 年,在 Nathan Newman 博士的指导下,他获得亚利桑那州立大学材料科学与工程博士学位,研究用于蜂窝和先进计算应用的低损耗电介质。 2011年他获得华中科技大学科学学士学位。独着或合著超过20编技术论文。 他是JEDEC JC-70 宽能隙电力电子转换半导体委员会的委员和内部联络员。
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