GaN技术杂谈

与电压等级一起，RDS(ON) 是一个常见的参数，用于描述硅MOSFET和氮化镓FET。RDS(ON) 是在给定技术平台内描述器件尺寸及其成本的良好指标。然而，在大多数开关电源转换器中，损耗是导通损耗和开关损耗的组合。因此，RDS(ON) 既不是不同技术平台之间也不是同一技术平台内的可靠性能指标。 这在设计师从硅MOSFET转换到氮化镓FET时尤其如此。

高效电源转换（EPC）正在使老化的硅功率MOSFET与eGaN®晶体管之间的性能差距扩大一倍，达到200 V额定值。新一代第五代器件的尺寸约为上一代的一半。性能提升源自两个主要设计差异，如图1所示。左侧是第四代200 V增强型GaN-on-Si工艺的横截面。右侧是第五代结构，具有缩短的栅极和源极电极之间的距离，并添加了一层厚金属。这些改进，加上许多未显示的其他改进，使新一代FET的性能提高了一倍。