第10阶段产品可靠性测试报告

由于宜普电源转换公司(EPC)的氮化镓(eGaN®)器件在许多不同应用中普及,因此业界继续积累氮化镓器件可靠性的测试统计数据,以及研究氮化镓器件发生故障的基础物理学。第10阶段产品可靠性测试报告增加了前9份报告[1-9]中发布的、不断增长的知识库,并且涵盖了几个关键的新主题。

宜普电源转换公司的Alejandro Pozo 博士、Shengke Zhang 博士和Robert Strittmatter 博士

关键要点

  • EPC器件已成功通过车规级AEC-Q101认证。AEC-Q101对功率FET可靠性要求最高,不仅要求符合数据表、器件故障为零,而且要求在应力测试期间,具很低的参数漂移。当氮化镓器件通过车规级AEC-Q101认证,证明它具有高可靠性。
  • 超越AEC-Q101标准!EPC开发出一个测试系统来检查开关器件的可靠性:相对于三个加速系数,RDS(on)如何增加:(1)VIN、(2)温度和(3)开关频率。结果表明,对于eGaN FET来说,三个加速系数没有增加动态RDS(on)
  • 使用EPC开发的测试系统,重新评估在栅极的器件可靠性。该系统允许在DC栅极应力下测试大量器件,同时连续监测栅极泄漏和定期记录其他器件参数(VTH和IDSS),从而可以更全面了解器件在高栅极应力条件下的损坏情况。结果表明,eGaN FET在栅极上非常稳固和具有高可靠性。
  • EPC对30,000器件进行了超过1,800万小时的应力测试,没有器件发生故障。