推进 GaN 在特定任务应用中的可靠性
氮化镓 (GaN) 器件在各行业的快速应用需要持续的可靠性研究进步。EPC 的第 17 期可靠性报告提供了全面的寿命模型和新的可靠性见解，
帮助工程师在真实环境中优化 GaN 性能。
为什么这份报告很重要？
此最新版本扩展了以往的模型，引入了新的基于物理的方法，以更好地预测 GaN 的老化机制并增强寿命预测能力。
该报告将复杂的可靠性数据转换为易于使用的格式，使其更易于应用于关键任务应用中。
本报告涵盖哪些内容？
扩展的栅极寿命模型
- 结合了不同电压和温度下的栅极漏电流影响
- 引入基于占空比的瞬态栅极过电压额定值（在 7V 真实应用中验证）
增强的漏极过电压可靠性
- 新的测试验证数据，确认 GaN 在漏-源过电压应力下的稳健性
- 改进的动态 RDS(on) 模型，可预测长期器件性能
高功率应用的脉冲电流额定值
- 对 GaN 在不同栅极驱动电压和温度下的脉冲电流能力进行详细评估
- 测试超过 1 亿次脉冲，证明参数漂移极小，适用于 LiDAR 和高功率应用
热机械应力寿命模型
- 针对温度循环 (TC) 和功率循环 (PC) 应力的新综合模型
- 考虑芯片尺寸、焊球形状、PCB 特性和升温速率
- 首次包含 GaN 器件的功率循环寿命建模
特定应用的可靠性数据