GaN Reliability Solar Webinar

线上研讨会:实际航太应用中的氮化镓器件的可靠性

使用“测试器件至失效”的方法可准确预测用于航太应用的GaN FET和IC的产品寿命

立即观看:注冊收取链接以观看缐上研讨会的精彩重播

GaN FET和IC在航太应用中得以普及的原因是由于它具备卓越的性能,包括高效率、高功率密度、开关快和耐辐射。这些优势有助于提高系统可靠性、减轻重量和缩小尺寸,以及增强器件在充满挑战和严苛的太空环境中完成任务的能力。

在本次线上研讨会上,我们将深入探讨“测试器件至失效”的方法如何可以准确预测到在航太应用中工作的GaN FET和IC的产品寿命,包括DC/DC转换、电机驱动、激光雷达和电力推进器。

是次线上研讨会的内容包括:

  1. 介绍氮化镓技术及它在航太应用中的优势。
  2. 深入探討“测试器件至失效”的方法和它如何在严峻航太环境下,准确预测到GaN FET和IC的产品寿命。
  3. 从实际用于航太应用的氮化镓器件的性能可以看到,氮化镓器件具备优越的可靠性。
  4. 问答环节,为您答疑解难。

注册后,您将收到一封确认电子邮件,通知您如何取得线上研讨会的录制视频。

对未来的研讨会题目提出建议

线上研讨会时间表 - 请点击这里

Shengke Zhang.png

演讲者简介:张声科博士现任EPC公司的产品可靠性副总裁,负责领导团队对氮化镓晶体管和集成电路进行故障分析。在加入 EPC 之前,他曾担任移动电话行业 RF-MEMS 器件的高级故障分析工程师。2016 年,在 Nathan Newman 博士的指导下,他获得亚利桑那州立大学材料科学与工程博士学位,研究用于蜂窝和先进计算应用的低损耗电介质。 2011年他获得华中科技大学科学学士学位。独着或合著超过20编技术论文。 他是JEDEC JC-70 宽能隙电力电子转换半导体委员会的委员和内部联络员。

立即购买:

实际航太应用中的氮化镓器件的可靠性

注册观看线上研讨会的重播

在提交此申请表时,我同意EPC公司的使用条款隐私声明

* 必须填写

请输入验证码:*
captcha