Projecting eGaN Device Lifetime eBook

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预测氮化镓(eGaN®)的器件寿命

Projecting eGaN Device Lifetime

下载这电子书,可深入了解eGaN器件如何实现卓越的现场可靠性。

这电子书描述五个关键要点,以理解导致eGaN器件发生故障的因素,从而创建模型来预测器件的可靠性。

这五个关键要点是:

  1. 对器件进行反复栅极应力测试并预测eGaN器件的寿命
  2. 对器件进行反复漏极应力测试并预测eGaN器件的寿命,同时实际上消除了动态盗导通电阻RDS(on)
  3. 激光雷达脉冲应力测试,从而评估器件的长期可靠性
  4. 在严重温度漂移、超长时间的器件工作时间的条件下,对器件进行热机械应力测试,以及选择底部填充材料

EPC公司拥有业界最全面的GaN产品系列:15 V~350 V、低于1 A~590 A。
详情请查看EPC的产品组合。

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