第10阶段产品可靠性测试报告

由于宜普电源转换公司（EPC）的氮化镓（eGaN®）器件在许多不同应用中普及，因此业界继续积累氮化镓器件可靠性的测试统计数据，以及研究氮化镓器件发生故障的基础物理学。第10阶段产品可靠性测试报告增加了前9份报告[1-9]中发布的、不断增长的知识库，并且涵盖了几个关键的新主题。

宜普电源转换公司的Alejandro Pozo 博士、Shengke Zhang 博士和Robert Strittmatter 博士

关键要点

  • EPC器件已成功通过车规级AEC-Q101认证。AEC-Q101对功率FET可靠性要求最高，不仅要求符合数据表、器件故障为零，而且要求在应力测试期间，具很低的参数漂移。当氮化镓器件通过车规级AEC-Q101认证，证明它具有高可靠性。
  • 超越AEC-Q101标准！EPC开发出一个测试系统来检查开关器件的可靠性：相对于三个加速系数，RDS(on)如何增加：（1）VIN、（2）温度和（3）开关频率。结果表明，对于eGaN FET来说，三个加速系数没有增加动态RDS(on)。
  • 使用EPC开发的测试系统，重新评估在栅极的器件可靠性。该系统允许在DC栅极应力下测试大量器件，同时连续监测栅极泄漏和定期记录其他器件参数（VTH和IDSS），从而可以更全面了解器件在高栅极应力条件下的损坏情况。结果表明，eGaN FET在栅极上非常稳固和具有高可靠性。
  • EPC对30,000器件进行了超过1,800万小时的应力测试，没有器件发生故障。