缩小实验室生成的可靠性测试与实际任务剖面之间的差距
加州埃尔塞贡多 – 2026年3月19日 – Efficient Power Conversion（EPC），增强型氮化镓（eGaN®）功率器件的全球领导者，今日宣布发布其第18阶段可靠性报告，为eGaN器件可靠性提供新的见解。该报告在以往工作的基础上，缩小实验室生成的可靠性测试与真实世界任务剖面下器件性能之间的差距。报告引入了新的方法，可在应用特定应力条件下更好地预测器件寿命；这些方法是在与客户密切合作的基础上形成，并由同行评审研究和国际会议发表成果提供支持。
该报告强调了理解GaN HEMT中基本磨损机制的重要性，并提出了一种定量方法，可根据运行期间经历的主要应力条件来估算器件的整体寿命。该方法结合电压、电流、温度和占空比等不同应力因素，可在广泛应用中实现更准确的寿命预测。
第18阶段与早期报告类似，但更深入地探讨了主要磨损机制。这些机制包括pGaN结构中的栅极可靠性、承受应力和过压的能力（稳健性）、最大电流密度，以及芯片级和QFN封装形式中的热机械器件磨损。该报告还研究了动态开关条件和高频运行中的可靠性，使我们能够更好地了解器件在真实环境中的工作方式。
此外，该报告引入了任务特定可靠性评估，包括以快速电流瞬变和变化负载条件为特征的电机驱动应用。报告提出了一种定制化测试方法，用于模拟这些应用特定应力剖面，展示了EPC GaN技术在此类条件下的稳健性。
“第18阶段代表着我们在理解eGaN器件在真实运行条件下行为方面取得的重大进展，”Efficient Power Conversion产品可靠性副总裁Shengke Zhang表示。“通过识别内在磨损机制，并将其与任务特定应力条件关联起来，我们能够更准确地预测器件寿命，并支持更可靠的系统设计。”
“第18阶段可靠性报告不仅体现了EPC在GaN技术方面的持续创新，也体现了我们与客户合作的力量，”EPC首席执行官Alex Lidow表示。“我们衷心感谢所有通过建设性讨论甚至具有挑战性的要求做出贡献的客户——这种程度的参与对于缩小实验室测试与真实世界性能之间的差距至关重要。”
第18阶段可靠性报告将在APEC上展示，进一步强化其对于电力电子设计人员的技术严谨性和实际相关性。
该报告现已可在EPC网站下载。
关于EPC
EPC是基于增强型氮化镓（eGaN®）的电源管理领导者。eGaN FET和集成电路在DC-DC转换器、遥感技术（激光雷达）、用于eMobility的电机驱动、机器人和无人机，以及低成本卫星等应用中，提供比最佳硅功率MOSFET高出数倍的性能。
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