第16階段產品可靠性測試報告

第16階段產品可靠性測試報告記錄了使用測試元件至失效的方法的持續產品測試報告,以及加入了提高熱機械可靠性的指南。

第15階段產品可靠性測試報告相比,第16階段產品可靠性測試報告進一步提供了可擴展的數據和分析,包括對給定應用關注的磨損機制的一般概述,旨在向瞭解氮化鎵技術的讀者介紹氮化鎵產品可靠性。

Siddhesh Gajare博士,1Duanhui Li博士,1Ricardo Garcia,1Gerald Adriano,1Angel Espinoza,1Han Gao博士,1Gordon Stecklein博士,1,2Shengke Zhang博士,1

1高效電源轉換2 SkyWater Technology技術

本報告涵蓋的內容:

  • 第1節:使用測試元件至失效方法確定磨損機理
    第1節描述了測試元件至失效方法的好處,以及這種方法如何通過揭示元件的固有失效機理,讓我們可以不斷提高氮化鎵元件的可靠性。
  • 第2節:使用測試元件至失效方法的結果來預測在系統中元件的產品壽命
    第2節是本報告添加的新章節,描述了如何在結合了大應力和小應力時期、現實任務中所預測到的系統可靠性。
  • 第3節:磨損機理
    基本磨損機理在第3節中討論。與本報告的先前各個版本相比,熱機械磨損機理和過壓指南添加了重要的新信息。
    • 3.1閘極磨損
    • 3.2汲極磨損
    • 3.3電流密度損耗
    • 3.4熱機械磨損
    • 3.5機械應力磨損
  • 第4節:特定任務下的產品可靠性預測
    第4節報告了氮化鎵元件在特定應用中的可靠性。
    • 4.1在太陽能應用元件的特定可靠性
    • 4.2在DC/DC應用元件的特定可靠性
    • 4.3在光達應用元件的特定可靠性
  • 第5節:總結和結論
  • 附錄: 實現PQFN封裝元件可靠組裝的鋼模設計規則
    附錄中提供了一種優化鋼模以實現可靠組裝的方法,該方法顯示了如何確定PQFN封裝的GaN FET的焊球高度。