GaNの信頼性を理解する：品質認定から摩耗モデリングまで

EPCの信頼性部門バイス・プレジデントのShengke Zhangによるこのプレゼンテーションでは、GaNパワー・デバイスの信頼性に関する最も一般的な質問の1つ、つまり、メーカーが10年間の寿命を検証するまで待つことなく、どのようにして自信を持って10年間の寿命を保証できるかという点について取り上げます。この講演では、信頼性の「バスタブ曲線」を紹介し、標準的な1000時間の品質認定テストの限界を説明し、長期的な摩耗の振る舞いを予測するために使われる故障するまでのテスト方式を紹介します。Zhangは、データセンター向け48 Vの中間バス・コンバータ（IBC：intermediate bus converter）・モジュールのケース・スタディを通して、要求の厳しい高電力密度用途において丈夫なGaN性能を確保するために、温度サイクル、故障メカニズム解析、物理ベースの寿命モデリングの効果に注目します。

ビデオ全体を見る