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第7世代GaNがAIラックと人型ロボットの電力密度を再定義
Posted 2026年4月27日
AI(人工知能)インフラが800 Vの電力分配に移行し、人型ロボットの関節に、パワー・エレクトロニクスを直接組み込めるようになるにつれて、第7世代GaNとGaN ICは、重要な15 V~40 Vの範囲で、より高い効率、より高速なスイッチング、劇的に向上した電力密度を実現し、ハードウエア開発チームが次世代変換アーキテクチャに取り組む方法を変革しています。
人工知能インフラがメガワット級のラックや800 Vの電力分配アーキテクチャへと規模を拡大し、人型ロボットがパワー・エレクトロニクスを関節やアクチュエータに直接組み込めるようになるにつれて、変換効率、密度、動的性能に対する要求は根本的に変化しました。従来のシリコンMOSFETベースの設計は、特にモーター駆動回路、負荷点POL(point of load)コンバータ、ロボットの分散型パワー段を支える15 V~40 Vの範囲においてスイッチング損失、熱的制約、物理的な実装面積によってますます制約を受けるようになっています。.
こうした背景のもと、Efficient Power Conversion(EPC)は、低電圧パワー性能における飛躍的な進歩として、第7世代GaNプラットフォームを位置付けています。パワー・エレクトロニクスの世界的な展示会2026年のApplied Power Electronics Conference(APEC)で展示した最新のeGaNデバイスとGaN ICは、評価基板やデモ用プラットフォームの枠を超えて、AIコンピューティングや次世代ロボット向けの量産対応アーキテクチャへと進化するように設計しています。第7世代は、低いオン抵抗RDS(on)、ゲート電荷の低減、高速スイッチング能力を組み合わせることで、主要な効率と電力密度の指標においてシリコンMOSFETを上回り、より緊密な統合と簡素化したレイアウトを可能にしています。
ただし、ハードウエアの開発者にとって、性能に関する要求は、考慮すべき要素の一部に過ぎません。寄生要素の管理、EMI(電磁干渉)雑音の制御、密閉した関節における熱モデリング、高いdi/dt値でのレイアウト規則、そして過酷な負荷変動下での長期信頼性といった現実的な課題こそが、GaNを大規模に展開できるかどうかを最終的に決定づけます。
以下のQ&Aでは、第7世代GaNの背後にあるデバイス・レベルの革新、AIラックへの電力供給やロボットのモーター駆動回路への組み込みにおけるシステム・レベルの影響、そしてシリコンから高周波・高密度GaNアーキテクチャへの移行を検討しているチームにとって重要な設計上の考慮事項について探っていきます。
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