2019年9月25日 - 2019年9月26日
Automotive Lidar 2019
場所： 米国ミシガン州デトロイト
Automotive Lidar 2019
9月25日～9月26日に米国ミシガン州デトロイトで開催される国際会議Automotive Lidar 2019 ConferenceでEPCにおいで下さい。ここで、EPCは、車載用Lidar（光による検出と距離の測定）向けのeGaN® FETとICを紹介します。
詳細を見る
2019年9月26日 - 2019年9月27日
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
場所： フランスのトゥールーズ
GaNオン・シリコンのパワーFETにおける主要な固有故障メカニズムに対する故障の物理 講演者：Alex Lidow博士、Efficient Power ConversionのCEO（最高経営責任者）で共同創立者
GaNオン・シリコン技術は、10年間、大量生産されており、使用現場で信頼性が優れているという評判を得ています。現場の信頼性記録の背景には、商用デバイスや車載認定デバイスの故障の物理に対する理解が深まっていることがあります。この講演では、ホット・キャリア注入（HCI：hot carrier injection）と動的オン抵抗RDS(on)の実質的排除、および、ゲート電極の経時絶縁破壊率に関する最新の結果を示します。全体的に、これら2つの物理現象は、主要な固有の故障メカニズムを代表しており、さまざまな高ストレス条件下で、長期間にわたるデバイス性能の実用的な予測を導いています。