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Projecting eGaN^® Device Lifetime

この電子ブックをダウンロードして、eGaNデバイスのフィールド信頼性の優れた記録の根底にある戦略について考察してください。

この電子ブックには、eGaNデバイスの故障につながる条件を、より深く理解するための5つの重要なポイントが含まれており、その情報を使ってモデルを作成し、信頼性を予測します。

これらの5つの重要なポイントは次の通りです：

1. 故障するまで、ゲートのストレス・テストを実施し、eGaNデバイスの寿命を予測する
2. 故障するまで、ドレインのストレス・テストを実施し、動的オン抵抗R_DS(on)を実質的に排除して、eGaNデバイスの寿命を予測する
3. 長期的な信頼性を評価するためのLidarパルスのストレス・テスト
4. 過酷な温度変動下での超長期間のデバイス動作のための熱機械的応力とアンダーフィルの選択
5. 2260億時間の動作にわたるeGaNデバイスのフィールド信頼性