ミッション特化型アプリケーション向けGaNの信頼性向上
ガリウムナイトライド（GaN）デバイスの急速な普及に伴い、信頼性研究の継続的な進展が求められています。EPCの「フェーズ17 信頼性レポート」は、包括的な寿命モデルと新たな信頼性の知見を提供し、エンジニアが実環境でのGaNの性能を最適化できるよう支援します。
このレポートの重要性
最新版では、従来のモデルを拡張し、新たな物理ベースの手法を導入することで、GaNの摩耗メカニズムをより正確に予測し、寿命予測を向上させています。本レポートは、複雑な信頼性データを使いやすいフォーマットに変換し、ミッションクリティカルなアプリケーションに適用しやすくしています。
このレポートに含まれる内容
拡張されたゲート寿命モデル
- 異なる電圧および温度条件下でのゲートリーク電流の影響を組み込む
- デューティサイクルに基づく過渡ゲート過電圧評価を導入（実環境で7Vにて検証済み）
向上したドレイン過電圧信頼性
- ドレイン-ソース過電圧ストレス下でのGaNの堅牢性を確認する新しい試験データ
- 長期的なデバイス性能を予測するための改良された動的RDS(on)モデル
高出力アプリケーション向けパルス電流定格
- 異なるゲート駆動電圧および温度でのGaNのパルス電流性能の詳細な評価
- 1億回以上のパルス試験を実施し、最小限のパラメータ変動とLiDARや高出力用途への適合性を証明
熱機械ストレス寿命モデル
- 温度サイクル（TC）および電力サイクル（PC）ストレスの包括的な新モデル
- ダイ寸法、バンプ形状、PCB特性、ランプレートを考慮
- GaNデバイスの電力サイクル寿命モデリングを初めて導入
アプリケーション別の信頼性データ