実際の DC-DC用途におけるGaNの信頼性ウエビナ

DC-DCコンバータの信頼性は、システムの性能を維持し、安全性を確保し、コストと稼働停止時間を最小化し、寿命と持続可能性を促進するために不可欠です。このウエビナでは、DC-DCコンバータのさまざまな回路構成における窒化ガリウム（GaN）技術の信頼性に関する役に立つ洞察と実践的な知識を提供します。

このウエビナでは、最先端の故障するまでのテスト手法と、DC-DCコンバータの最も一般的な回路構成例におけるeGaNデバイスの寿命を正確に予測することの重要性について説明します。

このウエビナに参加して、以下について詳しく学びましょう：

1. GaN技術と、同期整流器やバック（降圧型）・コンバータなど、DC-DC コンバータの一般的な回路構成におけるその利点について紹介。
2. 故障するまでのテスト手法と、デバイスの寿命を正確に予測する際のその適用性の詳しい調査。
3. ハイサイドFETとローサイドFETの両方を考慮して、同期整流器とバック・コンバータに故障するまでのテスト手法を適用。
4. あなたの特定の質問や懸念事項に対処するための質疑応答セッション。

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