実際の太陽光発電用途におけるGaNの信頼性に関するウエビナ

最新のソーラー・パネルには、ますます高い電力密度と、より長い動作寿命が求められています。パワー・オプティマイザや、マイクロインバータを内蔵したパネルなどの太陽光発電用途は、多くの太陽光発電ユーザーにとって、ますます一般的なトレンドになりつつあります。窒化ガリウム（GaN）のパワー・トランジスタと集積回路は、太陽光発電システムを、より小型、より低温、より高効率、より信頼性の高いものにするソリューションを提供します。

25年を超える信頼性の高い動作は、太陽光発電設備の一般的な要件です。このため、このウエビナでは、故障するまでのテスト手法を利用して、eGaNデバイスの寿命を正確に予測するという先駆的なアプローチを詳しく掘り下げます。これは、太陽光発電用途で、25年を超える潜在能力を実証しています。

ウエビナに参加して、以下について詳しく学びましょう：

1. GaN技術と太陽光発電用途におけるその利点の紹介。
2. 故障するまでのテスト手法と、デバイスの信頼性の予測におけるその関連性を理解する。
3. 太陽電池用途におけるeGaNデバイスの並外れた寿命を正確に予測するための故障するまでのテスト手法の適用。
4. あなたの特定の質問や懸念事項に対処するためのQ&Aセッション。

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