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EPCがフェーズ17の信頼性レポートを公開:GaNの信頼性と寿命予測が向上

EPCがフェーズ17の信頼性レポートを公開:GaNの信頼性と寿命予測が向上

窒化ガリウム(GaN)のパワー・デバイスのリーダーであるEPC(Efficient Power Conversion Corporation、本社:カリフォルニア州エルセグンド)は3月11日、 フェーズ17の信頼性レポートを公開したと発表しました。これによって、パワー・エレクトロニクス、自動車、AI(人口知能)、宇宙、産業用などのアプリケーション向けの信頼性の高い技術としてのGaNの地位をさらに確固たるものにしました。

この最新の信頼性レポートでは、拡張した寿命モデル、ミッション固有の信頼性予測、および新しい物理ベースの摩耗メカニズムが紹介され、技術者にGaNパワー・デバイスのより正確で実用的な信頼性データが提供されます。

フェーズ17の信頼性レポートの主なハイライト

  • 拡張したゲート寿命モデル: 電圧と温度の全体にわたるゲート漏れ電流の影響を組み込んで、衝突電離のモデリングを強化
  • 繰り返し過渡ゲート過電圧テスト: 7 Vのゲート過電圧定格を開発、検証し、実際のアプリケーションにおける共振のような過渡ストレスに対処
  • 強化したドレイン過電圧の耐久性: ドレイン-ソース間の繰り返し過渡過電圧条件下でのGaNの優れた耐久性を詳しく検証
  • パルス電流定格の新しいデータ: テストを1億パルス以上に拡張し、第5世代と第6世代のGaNデバイスにおけるパラメータ・シフトが最小であることを証明
  • 包括的な熱機械寿命モデル: 自動車や AIの電源システムなどの高いストレスのアプリケーションに不可欠なパワー・サイクリング(PC)のモデリングを新たに追加
  • ミッション固有の信頼性の洞察: 太陽光、Lidar(光による検出と距離の測定)、DC-DC変換の各アプリケーションに対する分析を拡張したので、技術者は長期運用に向けて設計を微調整可能

信頼性と性能においてGaNの進歩を牽引

当社の故障するまでのテスト手法は、GaN技術を従来のシリコンMOSFETの先へと推進し続けています。現実世界のストレス条件を高度な寿命モデルに統合することによって、フェーズ17のレポートは、 次世代の電源用途の信頼性予測の精度を高めます。

「このレポートは、ミッション固有の予測と新しい寿命モデルによって、GaNの信頼性モデリングを進化させ、技術者が自信を持ってGaNを大出力、高効率で、耐久性の高い設計に統合できるようにします」と、 CEO(最高経営責任者)で共同創立者であるAlex Lidow(アレックス・リドウ)は述べています

入手方法

EPCのフェーズ17の信頼性レポートは、epc-co.com からダウンロードできます。追加の技術的詳細については、GaNのエキスパートに聞くに問い合わせください。

EPCについて

EPCは、エンハンスメント・モード窒化ガリウム(eGaN®)に基づいたパワー・マネージメント(電源管理)・デバイスのリーダーです。eGaN FETと集積回路は、 DC-DCコンバータリモート・センシング技術(Lidar)、 イーモビリティ向けモーター駆動、ロボット、ドローン、 低価格衛星 などの用途で、最高のパワーMOSFETよりも何倍も高性能です。 ウエブサイトはwww.epc-co.comです。

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eGaNは、Efficient Power Conversion Corporation, Inc.の登録商標です。

報道関係の問い合わせ先

Efficient Power Conversion:
Renee Yawger
電話: +1.908.619.9678
電子メール: [email protected]