GaN Reliability Solar Webinar

実際のモーター駆動用途におけるGaNの信頼性に関するウエビナ

故障するまでのテスト手法を使って、モーター駆動用途におけるGaN FETとICの寿命を正確に予測する

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GaN FETとICの利点を活用することで、モーター駆動用途は、より高い効率、性能の向上、小型な設計を実現できます。モーター駆動システムでのGaN技術の利用は、エネルギーの節約、発熱の低減、システム全体の信頼性の向上に貢献します。

このウエビナでは、故障するまでのテスト手法によって、イーモビリティ、ロボット、産業自動化、ドローンなどのさまざまな業界のモーター駆動用途におけるGaN FETとICの寿命予測がどのように可能になるかを検証します。

ウエビナに参加して、以下について詳しく学びましょう:

  1. GaN技術とモーター駆動用途におけるその利点の紹介。
  2. モーター駆動向けのGaN FETとICの寿命を正確に予測する際の故障するまでのテスト手法とその適用性を徹底的に調査。
  3. 実際の結果は、モーター駆動用途におけるGaNデバイスの卓越した信頼性を示しています。
  4. あなたの特定の質問や懸念事項に対処するための質疑応答セッション。

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講演者:Shengke Zhang博士は、EPCの製品信頼性部門バイス・プレジデントで、すべてのGaNトランジスタとICの故障解析の実施を指揮しています。EPCに入社する前は、モバイル業界でRF-MEMSデバイス(RF信号を扱えるMEMSデバイス)のシニア故障分析エンジニアとして働いていました。2016年に米アリゾナ州立大学でNathan Newman博士の下、セルラーおよび高度なコンピューティングのアプリケーション向けの低損失誘電体の研究で材料科学および工学の博士号を取得。2011年に華中科技大学で学位を取得。20件以上の技術論文の著者および共著者です。JEDECのJC-70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors Committeeの委員および内部連絡員でもあります。

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