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GaNオン・シリコンのパワー・デバイス:シリコン・ベースのパワーMOSFETを退陣させる方法

GaNオン・シリコンのパワー・デバイス:シリコン・ベースのパワーMOSFETを退陣させる方法

効率的な電力変換のために設計された窒化ガリウム(GaN)のパワー・トランジスタは、7年間、生産されています。GaNの優れたスイッチング速度によって、光による検出と距離の測定、包絡線追跡、無線充電などの新しい市場が生まれました。これらの市場は、GaN製品が大量生産、低製造コスト、そして信頼性が高いとの評判を得ることを可能にしました。これらのすべてがDC-DCコンバータ、AC-DCコンバータ、自動車などのアプリケーションで、より保守的な設計技術者が評価プロセスを始めるための十分なインセンティブになっています。では、120億米ドルのシリコン・パワーMOSFET(金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ)市場が転換するための残りの障壁は何ですか? それは、自信です。

Alex Lidow
2017年3月
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Efficient Power Conversion(EPC)、GaNが私たちの生き方をどのように変えているかを紹介するビデオ・シリーズを公開

Efficient Power Conversion(EPC)、GaNが私たちの生き方をどのように変えているかを紹介するビデオ・シリーズを公開

Efficient Power Conversionは、窒化ガリウムのトランジスタや集積回路を使ったワイヤレス・パワーのテーブルトップ(卓上充電器)、高性能LiDAR(光による検出と距離の測定)、48 V入力、1.8 V出力の1段の DC-DC変換、高精度モーター駆動制御など、現在稼働している最終アプリケーションに関して、業界のエキスパートたちが制作した6本のビデオを公開しました。

エフィシエント・パワー・コンバージョン社(EPC:Efficient Power Conversion Corporation、本社:カリフォルニア州エルセグンド)は2017年4月25日、eGaN® FETとICを使った最終ユーザーのアプリケーションを紹介する6本の短いビデオを制作し、ウエブサイトで公開したと発表しました。これらのビデオは、GaN技術が「私たちの生き方をどのように変えているか」、および、窒化ガリウムのFETとICの高性能を次世代電源システムの設計に組み込むために格闘している電源システムの設計技術者を紹介しています。

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パワー・チップではあるが、私たちが知っているようなものではない

パワー・チップではあるが、私たちが知っているようなものではない

Max Smolaks氏は、電源系統のシリコンに代わる新しい材料である窒化ガリウムを歓迎しています。

過去35年間、ほとんどの電源は、パワーMOSFET(金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ)、すなわち、電気をオン/オフしたり、状態を調整したりするために使われるシリコン製の電圧制御デバイスに依存していました。

英Data Center Dynamics誌
2017年4月19日
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コードを切断しよう! ―― GaNがワイヤレス・ホームを可能にする

コードを切断しよう! ―― GaNがワイヤレス・ホームを可能にする

私たちが無線の世界に向かいつつあると信じられていましたが、私のテレビの背後を見ると、非常に話が違います。今、電線をいたるところで見ることができます。あらゆるモノをネットで結ぶIoTデバイス用のBRIDGESの数が増えていることは言うまでもありません。私たちは、無線で電力供給された家について、そして、GaN(窒化ガリウム)がいかにそれを可能性にしているのかについて語りたいと思っていました! 窒化ガリウムについて言えば、話す人は1人だけです。彼はEPC社にいて真に世界を変えています。彼は最初に、ポッドキャストEP180に出演し、なぜ窒化ガリウムがシリコンを粉砕させるのかについて話しました。そして、X線ピルの背後にあるLIDAR技術(ポッドキャスト203)に戻りました。しかし、彼は今日に戻って、何でも無線充電する方法について話をしています。それは、あなたの心を吹き飛ばすでしょう。Alex Lidow(アレックス・リドウ)は、Efficient Power ConversionのCEO(最高経営責任者)で共同設立者であり、技術がどのように電源コードを消滅させるのか、EPCがどのように無線の世界における充電をリードしているのかを語ります。

英The Tech Blog Writerのポッドキャスト
2017年4月14日
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Efficient Power Conversion(EPC)、9番目の信頼性レポートを発表、GaN技術の何100万デバイス時間もの厳格なストレス・テスト後で不具合ゼロを達成

Efficient Power Conversion(EPC)、9番目の信頼性レポートを発表、GaN技術の何100万デバイス時間もの厳格なストレス・テスト後で不具合ゼロを達成

EPCのフェーズ9の信頼性レポートでは、GaNにストレスを加えたデバイス-時間の合計が900万を超えても不具合がゼロだったことを報告します。このレポートでは、基板レベルの熱機械的信頼性に焦点を当て、はんだ接合の完全性の予測モデルを初めて記述し、同等のパッケージに収めたデバイスを上回るウエハー・レベルのチップスケール・パッケージ(WLCSP)に収めたGaN技術の優れた信頼性を示しています。

エフィシエント・パワー・コンバージョン社(EPC:Efficient Power Conversion Corporation、本社:カリフォルニア州エルセグンド)は2017年4月12日、基板レベルの厳格な熱機械的信頼性テストの結果をまとめたェーズ9の信頼性レポートを発表しました。 このフェーズ9の信頼性レポートは、EPCの最初の8件のレポートにまとめられた知識ベースをさらに増やし、GaN技術の信頼性に関する情報を研究、学習、共有するという継続的なコミットメントを実証しています。

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