多くの多様なアプリケーションでGaNデバイスの採用を加速するためには、信頼性統計の継続的な蓄積と、GaNデバイスの故障の基本的な物理の研究が必要です。この電子ブックは、さまざまな条件下でデバイスを強制的に故障させるテストに基づいて寿命を測定し、予測するために使われる戦略を説明しています。この情報を使って、業界向けのより強力で高性能な製品を生み出せます。
Alejandro Pozo Ph.D.、Shengke Zhang Ph.D.、Gordon Stecklein Ph.D.、Ricardo Garcia、John Glaser Ph.D.、Zhikai Tang Ph.D.、Robert Strittmatter Ph.D.、Efficient Power Conversion