GaN Reliability Solar Webinar

網路研討會：實際DC/DC應用中的氮化鎵元件的可靠性

使用“測試元件至失效”的方法可準確預測用於DC/DC轉換器常用拓撲的eGaN®元件的產品壽命

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DC/DC轉換器的可靠性對於維持系統性能、確保安全、最大限度地降低成本、縮短停機時間、延長產品使用壽命和實現可持續性至關重要。本次綫上研討會將與您分享有關各種DC/DC轉換器拓撲中氮化鎵技術可靠性的寶貴見解和實踐知識。

我們將探討採用最先進的“測試元件至失效”方法準確預測用於DC/DC轉換器常用拓撲的eGaN 元件壽命的重要性。

是次綫上研討會內容包括：

  1. 介紹氮化鎵技術及它在常見 DC/DC 轉換器拓撲（包括同步整流器和降壓轉換器）中的優勢。
  2. 深入探討“測試元件至失效”的方法和它如何可以準確預測到元件壽命。
  3. 將“測試元件至失效”的方法應用於同步整流器和降壓轉換器的高側和低側FET。
  4. 問答環節，為您在採用氮化鎵元件時答疑解難。

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演講者簡介：張聲科博士現任EPC公司的產品可靠性副總裁，負責領導團隊對氮化鎵電晶體和積體電路進行故障分析。 在加入 EPC 之前，他曾擔任移動電話行業 RF-MEMS 元件的高級故障分析工程師。2016 年，在 Nathan Newman 博士的指導下，他獲得亞利桑那州立大學材料科學與工程博士學位，研究用於蜂窩和先進計算應用的低損耗電介質。 2011年他獲得華中科技大學科學學士學位。獨著或合著超過20編技術論文。 他是JEDEC JC-70 寬能隙電力電子轉換半導體委員會的委員和內部聯絡員。

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