GaN Reliability Solar Webinar

網路研討會:實際航太應用中的氮化鎵元件的可靠性

使用“測試元件至失效”的方法可準確預測用於航太應用的GaN FET和IC的產品壽命

立即觀看:註冊收取連結以觀看網路研討會的精彩重播

GaN FET和IC在航太應用中得以普及的原因是由於它具備卓越的性能,包括高效率、高功率密度、開關快和耐輻射。這些優勢有助於提高系統可靠性、減輕重量和縮小尺寸,以及增强元件在充滿挑戰和嚴苛的太空環境中完成任務的能力。

在本次網路研討會上,我們將深入探討“測試元件至失效”的方法如何可以準確預測到在航太應用中工作的GaN FET和IC的產品壽命,包括DC/DC轉換、馬達控制、光達和電力推進器等應用。

是次網路研討會的內容包括:

  1. 介紹氮化鎵技術及它在航太應用中的優勢。
  2. 深入探討“測試元件至失效”的方法和它如何在嚴峻航太環境下,準確預測到GaN FET和IC的產品壽命。
  3. 從實際用於航太應用的氮化鎵元件的性能可以看到,氮化鎵元件具備優越的可靠性。
  4. 問答環節,為您答疑解難。

註册後,您將收到一封確認電子郵件,通知您如何取得網上研討會的錄製視頻。

對未來研討會題目提出建議

網路研討會時間表 - 請點擊這裡

Shengke Zhang.png

演講者簡介:張聲科博士現任EPC公司的產品可靠性副總裁,負責領導團隊對氮化鎵電晶體和積體電路進行故障分析。 在加入 EPC 之前,他曾擔任移動電話行業 RF-MEMS 元件的高級故障分析工程師。2016 年,在 Nathan Newman 博士的指導下,他獲得亞利桑那州立大學材料科學與工程博士學位,研究用於蜂窩和先進計算應用的低損耗電介質。 2011年他獲得華中科技大學科學學士學位。獨著或合著超過20編技術論文。 他是JEDEC JC-70 寬能隙電力電子轉換半導體委員會的委員和內部聯絡員。

立即購買:

實際航太應用中的氮化鎵元件的可靠性

註冊觀看網路研討會的重播

在提交此申請表時,我同意EPC公司的使用條款隱私權政策

* 必須填寫

請輸入驗證碼:*
captcha