GaN Wine Lounge 是一個輕鬆的影片對談系列，我們會在虛擬的一杯葡萄酒陪伴下，與客戶、學術合作夥伴、編輯以及 EPC 團隊成員一起暢談 GaN——以及 GaN 以外的話題。在非正式、友善的氛圍中，我們分享真實的實務經驗、心得體會以及新穎的想法。我們也加入了簡短的實驗室特別篇，帶您一窺實驗幕後以及 EPC 解決方案的實際應用。透過這個系列，我們建立連結、激發合作，並共同慶祝塑造 GaN 未來的人才與技術。
在本次訪談中，EPC 的 Maurizio Di Paolo Emilio 與 AccoTEST 全球行銷總監劉慧鵬探討了其十年來在氮化鎵（GaN）及其他寬能隙元件測試領域的經驗。劉慧鵬解釋了為什麼應將 GaN 視為積體電路（IC），而不僅僅是簡單的分立元件，並介紹了 AccoTEST 的多站點晶圓級測試解決方案。他們還討論了 AI 資料中心所面臨的可靠性挑戰、漏電流和 RDS(on) 等關鍵晶圓級參數，以及為什麼未來 GaN 技術的突破將主要由應用需求驅動。
在本次訪談中，Episil 集團董事長 JH Shyu 介紹了該公司作為 EPC GaN 晶圓代工合作夥伴所發揮的作用。他概述了 GaN 製造面臨的主要挑戰，包括熱管理、動態 RDS(on) 劣化、電磁干擾（EMI），以及 AI 伺服器和汽車應用中的可靠性問題。Shyu 強調，從 6 吋晶圓擴展到 8 吋和 12 吋晶圓、向垂直 GaN 技術過渡，以及整合一體化 GaN 功率 IC，是正在重塑電力電子產業的重要里程碑。
在本次訪談中，EPC 可靠性副總裁 Shengke Zhang 介紹了可在 4 開爾文溫度下運作的全功能 GaN 功率轉換器的開發過程。Zhang 解釋了為什麼 4 K 是超導和量子運算研究中的關鍵溫度，以及為什麼 GaN HEMT 在低溫條件下的性能優於矽 MOSFET。他詳細介紹了主要的工程挑戰，尤其是佈線和周邊元件方面的問題，並概述了未來的研究方向，包括單片整合功率級、面向 AI 的系統級可靠性，以及低電壓 GaN 元件的短路耐受能力。
GaN Wine Lounge 是一個輕鬆的影片對談系列，我們會在虛擬的一杯葡萄酒陪伴下，與客戶、學術合作夥伴、編輯以及 EPC 團隊成員一起暢談 GaN——以及 GaN 以外的話題。在非正式、友善的氛圍中，我們分享真實的實務經驗、心得體會以及新穎的想法。我們也加入了簡短的實驗室特別篇，帶您一窺實驗幕後以及 EPC 解決方案的實際應用。透過這個系列，我們建立連結、激發合作，並共同慶祝塑造 GaN 未來的人才與技術。