第10階段產品可靠性測試報告

由於宜普電源轉換公司（EPC）的氮化鎵（eGaN®）元件在許多不同應用中普及，因此業界繼續積累氮化鎵元件可靠性的測試統計數據，以及研究氮化鎵元件發生故障的基礎物理學。第10階段產品可靠性測試報告增加了前9份報告[1-9]中發佈、不斷增長的知識庫，而且涵蓋了幾個關鍵的新主題。

宜普電源轉換公司Alejandro Pozo 博士、Shengke Zhang 博士和Robert Strittmatter 博士

關鍵要點

  • EPC元件已成功通過車規級AEC-Q101認證。AEC-Q101對功率FET可靠性要求最高，不僅要求符合數據表、沒有任何元件發生故障，而且要求在應力測試期間，具很低的參數漂移。當氮化鎵元件通過車規級AEC-Q101認證，證明它具有高可靠性。
  • 超越AEC-Q101標準！EPC開發出一個測試系統來檢查開關元件的可靠性：相對於三個加速係數，RDS(on)如何增加：（1）VIN、（2）溫度和（3）開關頻率。結果表明，對於eGaN FET來說，三個加速係數沒有增加動態RDS(on)。
  • 使用EPC開發的測試系統，重新評估在閘極的元件可靠性。該系統允許在DC閘極應力下測試大量元件，同時連續監測閘極泄漏和定期記錄其他元件參數（VTH和IDSS），從而可以更全面瞭解元件在高閘極應力條件下的損壞情況。結果表明，eGaN FET在閘極上非常穩固和具有高可靠性。
  • EPC對30,000元件進行了超過1,800萬小時的應力測試，沒有元件發生故障。