測試氮化鎵元件在何時開始失效 Posted 2020年3月11日 從2010年3月起,氮化鎵(GaN)功率元件已經實現高可靠性並進行量產。本章詳細闡析如何測試出元件在何時開始失效,從而瞭解數據手冊給出的元件工作條件,距離其工作極限值還有多少餘量。而最重要的是,找出元件固有的失效機理,瞭解其失效的根本原因、恒常操作情況、溫度、電氣應力或機械應力等,從而知道產品在一般工作條件下,它的安全使用壽命。 Power Systems Design 2020年3月 閱讀全文 相關的熱門文章 Better thermal management of eGaN FETs 於嚴峻情況下氮化鎵元件如何工作 – 將eGaN FET置於遠高於數據手冊的電壓和電流限值下工作 Testing Gallium Nitride Devices to Failure Under Extreme Voltage and Current Stress GaN Reliability Testing Beyond AEC Proves Robustness for Automotive Lidar Applications Minimizing Thermo-mechanical Stress in Chipscale eGaN Devices