講演者:Shengke Zhang博士は、EPCの製品信頼性部門バイス・プレジデントで、すべてのGaNトランジスタとICの故障解析の実施を指揮しています。EPCに入社する前は、モバイル業界でRF-MEMSデバイス(RF信号を扱えるMEMSデバイス)のシニア故障分析エンジニアとして働いていました。2016年に米アリゾナ州立大学でNathan Newman博士の下、セルラーおよび高度なコンピューティングのアプリケーション向けの低損失誘電体の研究で材料科学および工学の博士号を取得。2011年に華中科技大学で学位を取得。20件以上の技術論文の著者および共著者です。JEDECのJC-70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors Committeeの委員および内部連絡員でもあります。