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太陽光発電用途におけるeGaNデバイスの信頼性と寿命の正確な評価のための故障するまでテストするという方法論

太陽光発電用途におけるeGaNデバイスの信頼性と寿命の正確な評価のための故障するまでテストするという方法論

最新のソーラー・パネルには、より高い電力密度と、より長い動作寿命が求められています。パワー・オプティマイザや、マイクロインバータを内蔵したパネルなどの太陽光発電用途では、ソーラーのユーザー数が増加していることが一般的な傾向になりつつあります。ここでは、低電圧GaNパワー・デバイス(ドレイン-ソース間電圧VDS<200 V)が広く使われています。

独Bodo’s Power Systems
2023年5月
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