縮小實驗室生成的可靠性測試與實際任務剖面之間的差距
加州埃爾塞貢多 – 2026年3月19日 – Efficient Power Conversion（EPC），增強型氮化鎵（eGaN®）功率元件的全球領導者，今日宣布發布其第18階段可靠性報告，為eGaN元件可靠性提供新的見解。該報告在以往工作的基礎上，縮小實驗室生成的可靠性測試與真實世界任務剖面下元件性能之間的差距。報告引入了新的方法，可在應用特定應力條件下更好地預測元件壽命；這些方法是在與客戶密切合作的基礎上形成，並由同行評審研究和國際會議發表成果提供支持。
該報告強調了理解GaN HEMT中基本磨損機制的重要性，並提出了一種定量方法，可根據運行期間經歷的主要應力條件來估算元件的整體壽命。該方法結合電壓、電流、溫度和占空比等不同應力因素，可在廣泛應用中實現更準確的壽命預測。
第18階段與早期報告類似，但更深入地探討了主要磨損機制。這些機制包括pGaN結構中的閘極可靠性、承受應力和過壓的能力（穩健性）、最大電流密度，以及晶片級和QFN封裝形式中的熱機械元件磨損。該報告還研究了動態開關條件和高頻運行中的可靠性，使我們能夠更好地了解元件在真實環境中的工作方式。
此外，該報告引入了任務特定可靠性評估，包括以快速電流瞬變和變化負載條件為特徵的馬達驅動應用。報告提出了一種客製化測試方法，用於模擬這些應用特定應力剖面，展示了EPC GaN技術在此類條件下的穩健性。
“第18階段代表著我們在理解eGaN元件在真實運行條件下行為方面取得的重大進展，”Efficient Power Conversion產品可靠性副總裁Shengke Zhang表示。“通過識別內在磨損機制，並將其與任務特定應力條件關聯起來，我們能夠更準確地預測元件壽命，並支持更可靠的系統設計。”
“第18階段可靠性報告不僅體現了EPC在GaN技術方面的持續創新，也體現了我們與客戶合作的力量，”EPC執行長Alex Lidow表示。“我們衷心感謝所有通過建設性討論甚至具有挑戰性的要求做出貢獻的客戶——這種程度的參與對於縮小實驗室測試與真實世界性能之間的差距至關重要。”
第18階段可靠性報告將在APEC上展示，進一步強化其對於電力電子設計人員的技術嚴謹性和實際相關性。
該報告現已可在EPC網站下載。
關於EPC
EPC是基於增強型氮化鎵（eGaN®）的電源管理領導者。eGaN FET和積體電路在DC-DC轉換器、遙感技術（光達）、用於eMobility的馬達驅動、機器人和無人機，以及低成本衛星等應用中，提供比最佳矽功率MOSFET高出數倍的性能。
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