部落格:氮化鎵技術如何擊敗矽技術

雜談GaN技術

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四月 20, 2021

脈衝 1550 nm 激光 用於 光達

Steve Colino, Vice President, Strategic Technical Sales

脈衝激光雷達系統通常使用 905 nm 或 1550 nm 激光進行光學發射。  在 1400 nm 以上時,眼睛的各種元素會吸收光線,阻止其到達並損害視網膜。  隨著激光功率的增加,並不是所有的光都被吸收,在某些情況下可能會發生視網膜損傷。  由於 905 nm 的光線不被吸收,它確實會到達視網膜,因此必須小心控制能量密度以防止損壞。

四月 07, 2021

高能氮化鎵 + 數位控制 + 高效能磁性元件 設計一款超薄、高效能 (>97%)、多級直流轉直流轉換器

Renee Yawger, Director of Marketing

基於氮化鎵 (GaN) 的解決方案結合數位控制和高性能磁性材料,可以提高效率、縮小尺寸並降低高密度計算應用(如超薄筆記型電腦和高端遊戲系統)的系統成本。

三月 22, 2021

eToF™ 雷射驅動ICs 用於先進自駕雷達

John Glaser , Ph.D., Director of Applications

共同撰寫:Steve Colino

三月 03, 2021

為什麼選擇氮化鎵 (GaN) 用於 DC-DC 空間設計

David Reusch, Ph.D., Principal Scientist, VPT

電力電子工程師不斷致力於設計具有更高效率和更高功率密度的設計,同時保持高可靠性並將成本降至最低。設計技術的進步和元件技術的改進使工程師能夠始終如一地實現這些目標。電力半導體是這些設計的核心,它們的改進對於更好的性能至關重要。在這篇EPC空間部落格中,我們將展示氮化鎵(GaN)電力半導體如何在空間應用的惡劣輻射環境中實現創新。

二月 09, 2021

氮化鎵如何革新電機驅動應用

Marco Palma, Director of Motor Drives Systems and Applications

重新思考平凡並克服心理偏見

一月 15, 2021

使用 eGaN FET 和 IC 減少馬達驅動設計中的聽覺噪音

Renee Yawger, Director of Marketing

無刷直流 (BLDC) 馬達 越來越受歡迎,並且在機器人技術、電子移動和無人機中有著越來越多的應用。這些應用有特殊需求,例如輕量、小尺寸、低轉矩波動、低噪音和極高的精度控制。為了滿足這些需求,為馬達提供動力的變頻器需要以更高頻率運行,但同時需要先進技術來減少由此產生的較高功率損耗。增強模式氮化鎵 (eGaN ®) 晶體管和集成電路能夠在不產生顯著損耗的情況下以更高頻率運行。

十二月 14, 2020

如何使用單片GaN ePower™級設計雙向1/16磚48 V-12 V轉換器

Alex Lidow, Ph.D., CEO and Co-founder

磚式DC-DC轉換器廣泛應用於數據中心、電信和汽車應用,將標稱48V匯流排轉換為(或從)標稱12V匯流排。氮化鎵(GaN)集成電路(IC)技術的進步使得半橋和閘極驅動器得以集成,從而形成單芯片解決方案,簡化了佈局、最小化面積並降低成本。

十一月 03, 2020

如何設計高效能、2.5 kW、通用輸入電壓範圍、功率因數校正(PFC)400 V 整流器,使用200 V eGaN® FETs

Alex Lidow, Ph.D., CEO and Co-founder

致謝 - 此應用說明和相關硬體是與德克薩斯大學奧斯汀分校的半導體電力電子中心 (SPEC) 合作開發的。

九月 09, 2020

新的 100V eGaN 器件提升了相對老化的矽基功率MOSFET的基準性能

Alex Lidow, Ph.D., CEO and Co-founder

高效能電源轉換 (EPC) 正在提升與老化的矽電源 MOSFET 和 100 V 等級的 eGaN 電晶體之間的性能距離。新的第五代「plus」裝置相比於前一代產品,擁有約 20% 更低的 RDS(on) 和更高的直流額定值。這種性能提升來自於厚金屬層的增加和從焊球轉換為焊條。

八月 21, 2020

新的200V氮化鎵(eGaN)器件性能優勢是老化的矽功率MOSFET的兩倍。

Alex Lidow, Ph.D., CEO and Co-founder

Efficient Power Conversion (EPC) 正在將老化的矽功率 MOSFET 和 eGaN® 電晶體之間的性能差距加倍至 200 V 等級。這些第五代新裝置的尺寸約為上一代的一半。這一性能提升主要來自於兩個設計上的差異,如圖 1 所示。左邊是第四代 200 V 增強模式 GaN-on-Si 工藝的橫截面。右邊的橫截面是第五代結構,閘極和源極電極之間的距離縮短,並新增了厚金屬層。這些改進,加上許多未顯示的改進,使新一代 FET 的性能翻倍。

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