EPC技術記事

2014年10月29日

GaNの利用法:第4世代eGaN FET ―― 成熟したMOSFETとの特性の差を広げる

「GaNの利用法」シリーズのこの回では、鍵となるスイッチングの性能指数FOM(figure of merit)を大幅に改善し、高周波電力変換においてパワーMOFETとの特性の差を広げることで、ムーアの法則が生き続けていることをeGaN FETの新しいファミリーで説明します。

米EEWeb誌
By: Alex Lidow
2014年10月