eGaN FET Reliability

GaN 裝置可靠性

eGaN® 元件自2010年3月開始批量生產,在實驗室測試和大批量客戶應用中都表現出它具備非常高的可靠性。eGaN元件具有優越的現場可靠性測試結果。

EPC進行了廣泛的產品可靠性測試,以繼續瞭解氮化鎵元件在各種應力條件下的性能。

這些產品可靠性研究的結果表明,氮化鎵技術是一種極其穩健的技術,而且它會繼續快速改進。

EPC公司致力於提供符合嚴格的可靠性標準的氮化鎵元件和與功率轉換行業分享產品測試結果。我們將繼續定期在這個知識庫中添加新檔案。

GaN可靠性網絡研討會系列

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使用“測試元件至失效”的方法可準確預測用於太陽能應用的eGaN 元件如何實現超過25年的產品壽命

使用“測試元件至失效”的方法可準確預測用於DC/DC轉換器常用拓撲的eGaN®立即註册參加!

使用“測試元件至失效”的方法可準確預測用於航太應用的GaN FET和IC的產品壽命

GaN Power Bench

GaN Power Bench提供了越來越多的設計工具、模型和性能模擬,以幫助您的設計過程。

Ask and EPC Engineer a Question FAQ

您有關於氮化鎵元件可靠性的問題嗎?請參閱 可靠性常見問題解答或提交您的問題至向氮化鎵專家提問。