패널리스트: EPC의 제품 신뢰성 부문 부사장인 셍케 장(Shengke Zhang) 박사는 모든 GaN 트랜지스터 및 IC에 대한 고장분석 수행을 책임지고 있다. EPC에 합류하기 전에는 모바일 업계의 RF-MEMS 디바이스 부문 수석 고장분석 엔지니어로 활동했다. 그는 2016년 애리조나 주립대학교에서 네이선 뉴먼(Nathan Newman) 박사의 지도 하에 셀룰러 및 첨단 컴퓨팅 애플리케이션을 위한 저손실 유전체 연구로 재료과학 및 공학 학위를 취득했으며, 2011년 화중과학기술대학교(Huazhong University of Science and Technology)에서 학사 학위를 받았다. 그는 20개가 넘는 기술 논문의 저자이자 공동 저자로 참여했다. 또한 JEDEC의 JC-70 와이드 밴드갭 전력 전자 컨버전 반도체 위원회(Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors Committee)의 회원이자 내부 업무 담당자이기도 하다.
류창우 수석 FAE는 2021년 10월, EPC에 합류했으며, EPC의 최첨단 질화갈륨 기술을 채택한 GaN 기반 애플리케이션의 설계 및 평가 작업을 수행하고 있다. 그는 초기 평가작업에서 생산 및 설계 마감에 이르기까지 사전 및 사후 기술 지원을 통해 고객들의 애플리케이션별 문제 해결을 지원하고 있다. EPC에 합류하기 전에는 넥스페리아 반도체(Nexperia Semiconductors) 코리아에서 수석 FAE를 역임했으며, 그 이전에는 NXP 반도체(NXP Semiconductor) 코리아, LG 전자 및 대우 전자에서 근무했다. 그는 경북대학교에서 1994년 전자공학 학사학위, 1996년 전자공학 석사학위를 취득했다.